要解决的问题:提供一种用于多通道荧光测定的光学系统。解决方案:该用于多通道荧光测定法的光学系统用于向多个样品通道发射光以检测从样品发射的荧光,该光学系统包括光源10;光源10;光源10。积分器20,用于将从光源发出的光转换为强度分布均匀的光。样品保持器30具有多个样品通道,用于安装与从积分器发出的光发生荧光反应的样品。分光器33设置在积分器与样品架之间,以规定的比例分离入射光。
版权:(C)2006,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2006215026A
专利类型
公开/公告日2006-08-17
原文格式PDF
申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD;
申请/专利号JP20060011741
申请日2006-01-19
分类号G01N21/64;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:56:32