要解决的问题:提供一种生成用于检查组件的扫描计划的方法。
解决方案:该方法包括加载组件的几何模型(46)的步骤;以及基于几何模型(46)和至少一个扫描参数生成部件的扫描计划的步骤。还提供了一种用于检查部件的方法,该方法包括:用于加载部件的几何模型(46)的步骤;根据几何模型(46)和至少一个扫描参数产生部件的扫描计划的步骤;将组件安装在系统操纵器上的步骤;检查部件的步骤包括使检查探针相对于使用扫描计划的部件移动的步骤。
版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2006300933A
专利类型
公开/公告日2006-11-02
原文格式PDF
申请/专利权人 GENERAL ELECTRIC CO GE;
申请/专利号JP20060103332
发明设计人 MCKNIGHT WILLIAM S;VAMSHI KRISHNA REDDY KOMMAREDDY;SUH UI WON;GODBOLE MANDAR DIWAKAR;ANJANI NARENDRA SCHRAD;SHARMA PRAFULL;SUNEEL TUMKUR SHANKARAPPA;
申请日2006-04-04
分类号G01N27/90;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:55:53