要解决的问题:提供一种半导体集成电路,其中即使精细地将其电压变化如此精确地认为并使其操作特性良好,也可以比常规的电压变化更为精确地考虑。
解决方案:半导体集成电路器件的操作分析方法是一种基于半导体集成电路器件的电路信息的电源噪声分析方法。通过分析电源噪声以考虑由基板引起的阻抗的影响,由于其考虑了由基板引起的阻抗,因此与传统方法相比,其分析精度得到了更高的提高,而这种阻抗是在传统方法中未考虑的。
版权:(C)2006,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2006100718A
专利类型
公开/公告日2006-04-13
原文格式PDF
申请/专利权人 MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD;
申请/专利号JP20040287544
申请日2004-09-30
分类号H01L21/82;G06F17/50;H01L29;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:54:14