要解决的问题:提供一种优化分析装置,优化分析方法和优化分析程序,其提高了获得期望值的优化分析的分析效率和分析精度。
解决方案:优化分析设备包括分析部分(CPU 14),评估部分(CPU 14)和条件改变部分(CPU 14)。分析部分在给定的分析条件下进行分析。评估部分评估分析结果。条件改变部分根据评估结果改变赋予分析部分的分析条件。在更改的分析条件下进行一个或多个分析可得出最佳解决方案。
版权:(C)2006,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2006058976A
专利类型
公开/公告日2006-03-02
原文格式PDF
申请/专利权人 FUJITSU LTD;
申请/专利号JP20040237701
申请日2004-08-17
分类号G06F17/50;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:52:05