要解决的问题:提供一种用于双折射介质的层压结构分析方法和层压结构分析仪器,以及记录其程序的计算机可读记录介质。
解决方案:在用于分析叠层双折射介质的叠层结构分析方法中,涉及透射电磁波的电场的参数和电磁波在双折射叠层介质中的传播,涉及电磁波散射的参数在双折射介质中传播的电磁波发生反射的层中,将电磁波的偏转面相对于双折射介质的主轴的角度作为参数,并传播双折射介质的电磁波。折射介质在反射面上反射,然后返回传播,这是基于反射面的散射特性和与基于坐标轴的坐标分量有关的双折射介质在双折射介质中的传播特性而得出的。输入电磁波。改变反射面的角度和深度作为参数,并且输出反射面的角度和深度与所接收的电磁波之间的关系。
版权:(C)2005,JPO&NCIPI
公开/公告号JP3760242B2
专利类型
公开/公告日2006-03-29
原文格式PDF
申请/专利权人 独立行政法人情報通信研究機構;
申请/专利号JP20030297982
申请日2003-08-21
分类号G01S13/88;G01S7/40;G01S13/95;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:49:41