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Multi-channel buffered serial port debugging

机译:多通道缓冲串行端口调试

摘要

In digital signal processors serial data is passed in out and of the chip in a time division multiplexed (TDM) fashion. The TDM stream consists of many independent channels of serial data. The complexity of generating interleaved TDM serial data from multiple sources particularly in the case of multi-processor systems. This process is normally driven by a program resident on each processor. The proper sequencing of the TDM serial stream must be tested prior to making the multi-processor device ready for its application. This invention describes the use of minimal added hardware and a single output pin allowing the test and debug of program errors or device malfunctions in output serial data.
机译:在数字信号处理器中,串行数据以时分多路复用(TDM)方式传入和传出芯片。 TDM流由许多独立的串行数据通道组成。从多个源生成交错的TDM串行数据的复杂性,尤其是在多处理器系统的情况下。此过程通常由驻留在每个处理器上的程序驱动。在使多处理器设备为其应用做好准备之前,必须测试TDM串行流的正确排序。本发明描述了最小限度增加的硬件和单个输出引脚的使用,该引脚允许测试和调试输出串行数据中的程序错误或设备故障。

著录项

  • 公开/公告号US7028118B2

    专利类型

  • 公开/公告日2006-04-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 PATRICK J. SMITH;RUBEN D. PEREZ;

    申请/专利号US20020256504

  • 发明设计人 PATRICK J. SMITH;RUBEN D. PEREZ;

    申请日2002-09-27

  • 分类号G06F13/36;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:44:08

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