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A METHOD FOR MEASURING THE CONCENTRATION OF IMPURITIES IN HELIUM BY ION MOBILITY SPECTROMETRY'.

机译:用离子迁移谱法测定氦中杂质浓度的方法”。

摘要

A method for the qualitative analysis of the concentration of impurities in helium by means of ion mobility spectrometry is disclosed. Said method consists in using purified argon together with the helium which has to be analyzed for forming the sample, or pure argon as counterflow gas in the separation zone (17) of the instrument (15), or finally helium-purified argon mixtures both for the sample gas and for the counterflow gas.
机译:公开了一种通过离子迁移谱法定性分析氦气中杂质浓度的方法。所述方法包括使用纯化的氩气和必须进行分析以形成样品的氦气,或者在仪器(15)的分离区(17)中使用纯氩气作为逆流气体,或者最后将氦气纯化的氩气混合物用于样气和逆流气。

著录项

  • 公开/公告号IN2003KN00759A

    专利类型

  • 公开/公告日2005-12-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号IN759/KOLNP/2003

  • 申请日2003-06-12

  • 分类号G01N27/62;G01N27/64;

  • 国家 IN

  • 入库时间 2022-08-21 21:38:50

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