退出
我的积分：
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译：电子元器件的射频检查方法
公开/公告号AT332073T
专利类型
公开/公告日2006-07-15
原文格式PDF
申请/专利权人 UBINETICS (VPT) LIMITED;
申请/专利号AT20020749080T
发明设计人 TOWNSEND RICHARD PAUL;
申请日2002-07-30
分类号H05K3/28;H05K9/00;
国家 AT
入库时间 2022-08-21 21:36:28
机译： 电子元器件的射频检查方法
机译： 电子元件送料带包装，电子元件送料装置，电子元件送料装置中的零件信息管理方法，电子零件放置装置以及电子零件中零件的零件信息管理方法
机译： 用于供应电子部件的载带单元，用于供应电子部件的设备，用于在电子部件进给设备中管理部件信息的方法，电子部件安装设备以及用于在电子部件安装设备中管理部件信息的方法
