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METHOD OF EVALUATING CREEP LIFE EXPECTANCY OR LIFE SPAN

机译:蠕变寿命指数或寿命跨度的评估方法

摘要

A method of accurately evaluating the life expectancy or the life span of a creep-damaged device member, especially its fine-grained part. The life expectancy or the life span is represented by the time until the creep-damaged device member creep-ruptures. The number of linked voids present over a half or more of each length of two or more grain boundaries in areas of up to 1 mm2 of the surface of the device member is determined. The ratio of the number of linked voids to the area of 1 mm2 is used as an L parameter, and the life expectancy or the life span of the device member is evaluated on the basis of the L parameter.
机译:一种准确评估蠕变损坏的设备部件(尤其是细颗粒部件)的预期寿命或寿命的方法。预期寿命或寿命由蠕变损坏的设备部件蠕变破裂的时间表示。确定在装置构件表面的最高达1mm 2的区域中,在两个或更多个晶粒边界的每个长度的一半或更多个上存在的连接空隙的数量。连接的空隙数与1mm 2的面积之比被用作L参数,并且基于L参数来评估设备构件的预期寿命或寿命。

著录项

  • 公开/公告号WO2005124314A1

    专利类型

  • 公开/公告日2005-12-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利号WO2005JP11267

  • 发明设计人 NISHIDA HIDETAKA;

    申请日2005-06-20

  • 分类号G01N17/00;G01M19/00;G01N3/32;G01N33/20;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 21:33:15

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