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Apparatus and method for lowering the ion fragmentation cut-off limit

机译:降低离子碎裂截止极限的设备和方法

摘要

A mass analyzer for isolating, fragmenting and scanning ions. The mass analyzer includes an ion trap having a first electrode, a second electrode adjacent to the first electrode, and a third electrode interposed between the first electrode and the second electrode, a first RF source electrically connected to the first electrode and second electrode and a second RF voltage source electrically connected to the third electrode. The second RF voltage source provides for a second electrical field for fragmenting ions and broadens the potential application of the fragmentation cut-off of the device allowing for analysis of peptides and other complex molecules. The mass analyzer may be used independently or in combination with a mass spectrometry system. A method of ion fragmentation and cut-off is also disclosed.
机译:用于分离,裂解和扫描离子的质量分析仪。所述质量分析器包括离子阱,所述离子阱具有第一电极,与所述第一电极相邻的第二电极,和介于所述第一电极和所述第二电极之间的第三电极,电连接至所述第一电极和第二电极的第一RF源以及电极。第二RF电压源电连接到第三电极。第二RF电压源提供了用于使离子断裂的第二电场,并拓宽了装置的断裂截止的潜在应用,从而允许分析肽和其他复杂分子。所述质量分析器可以单独使用或与质谱系统结合使用。还公开了一种离子分裂和截止的方法。

著录项

  • 公开/公告号EP1696467A2

    专利类型

  • 公开/公告日2006-08-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利号EP20050013031

  • 发明设计人 MORDEHAI ALEX;

    申请日2005-06-16

  • 分类号H01J49/42;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 21:26:58

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