首页> 外国专利> METHOD OF INSPECTING 3D SCANNED DATA USING PARAMETRIC TOLERANCE

METHOD OF INSPECTING 3D SCANNED DATA USING PARAMETRIC TOLERANCE

机译:使用参数公差检查3D扫描数据的方法

摘要

A three-dimensional measurement data inspecting method using parametric tolerance is provided to automatically change an allowable tolerance value by changing only a parametric tolerance value without selecting all curved surfaces of design data and changing all tolerance values to change an allowable tolerance zone of the design data. A method for inspecting three-dimensional measurement data by setting parametric tolerance for each allowable tolerance included in design data includes the steps of: detecting the design data of an object by a control unit and setting the parametric tolerance by classifying the allowable tolerances used for the detected design data(S100,S110); designating the parametric tolerance set by the control unit, to the design data(S120); comparing the measurement data of the object detected through a scanner by the control unit, with the design data(S130,S140,S150); and making out a report for displaying the inspection result of the measurement data, according to the compared result by the control unit or correcting the parametric tolerance(S170,S180).
机译:提供一种使用参数公差的三维测量数据检查方法,以通过仅改变参数公差值而无需选择设计数据的所有曲面并改变所有公差值以更改设计数据的允许公差区域来自动改变允许公差值。一种通过为设计数据中包括的每个允许公差设置参数公差来检查三维测量数据的方法,该方法包括以下步骤:通过控制单元检测对象的设计数据,以及通过对用于测量的允许公差进行分类来设置参数公差。检测到的设计数据(S100,S110);将控制单元设定的参数公差指定给设计数据(S120);将控制单元通过扫描仪检测到的物体的测量数据与设计数据进行比较(S130,S140,S150);根据控制单元的比较结果或校正参数公差,制成报告以显示测量数据的检查结果(S170,S180)。

著录项

  • 公开/公告号KR100637727B1

    专利类型

  • 公开/公告日2006-10-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INUSTECHNILOGY INC.;

    申请/专利号KR20050049785

  • 发明设计人 BAE SEOCK HOON;LEE DONG HOON;

    申请日2005-06-10

  • 分类号G05B13;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 21:22:46

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号