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Contactless diffraction grating position angle measurement system has angled retroreflector and aperture stop with exact openings providing optical system focal plane scale

机译:非接触式衍射光栅位置角度测量系统具有成角度的后向反射器和孔径光阑,孔径精确,可提供光学系统焦平面刻度

摘要

A contactless diffraction grating angle measurement system has an angled retroreflector (5) with angle invariant in one or two planes and aperture stop (4) with exact openings (4-1, 4-2) providing measurement (7) of the optical system focal plane (6) scale for distance determination.
机译:非接触式衍射光栅角度测量系统具有成角度的后向反射器(5),该反射器在一个或两个平面中具有不变的角度,并且孔径光阑(4)具有精确的开口(4-1、4-2),可提供光学系统焦距的测量(7)用于确定距离的平面(6)比例尺。

著录项

  • 公开/公告号DE102004022472A1

    专利类型

  • 公开/公告日2005-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HOFBAUER ENGELBERT;

    申请/专利号DE20041022472

  • 发明设计人 HOFBAUER ENGELBERT;

    申请日2004-05-09

  • 分类号G01B11/26;G01B11/14;G01M11/08;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 21:21:00

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