首页> 外国专利> A laser system for measurements of the profile of objects

A laser system for measurements of the profile of objects

机译:用于测量物体轮廓的激光系统

摘要

A system for measuring a profile of an object comprising a source creating a beam of electromagnetic energy. An electromagnetic beam receiver spaced from the source for processing an output signal proportional to the girth of the object being measured. A platform for providing rotational and vertical movement of the object being measured causing the object to obstruct a portion of the electromagnetic beam generated by the source. A processor for processing the output signal from the electromagnetic beam receiver to form a composite profile of the object measured.
机译:一种用于测量物体轮廓的系统,包括产生电磁能束的源。与源隔开的电磁束接收器,用于处理与被测物体的周长成比例的输出信号。一个用于提供被测物体旋转和垂直运动的平台,该物体使物体阻挡由源产生的一部分电磁束。处理器,用于处理来自电磁束接收器的输出信号,以形成被测物体的合成轮廓。

著录项

  • 公开/公告号DE112004000510T5

    专利类型

  • 公开/公告日2006-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 PLASTIC TECHNOLOGIES INC.;

    申请/专利号DE20041100510

  • 发明设计人

    申请日2004-03-24

  • 分类号G01B11/24;G01B11/08;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 21:20:30

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号