首页> 外国专利> FORCE MEASURING DEVICE BY RESISTIVE DETECTION WITH DOUBLE BRIDGE OF WHEASTONE

FORCE MEASURING DEVICE BY RESISTIVE DETECTION WITH DOUBLE BRIDGE OF WHEASTONE

机译:惠斯顿双桥电阻检测力测装置

摘要

A Wheatstone double-bridge resistive detection force measuring device comprises at least eight resistive gages (Rx1, Rx2, Rx3, Rx4, Ry1, Ry2, Ry3, Ry4) placed on a deformable membrane (12, 13, 14) and substantially flat and mounted in two different directions.The resistive gauges (Rx1, Rx2, Rx3, Rx4, Ry1, Ry2, Ry3, Ry4) of each of the Wheatstone bridges are respectively disposed on disjoint portions of the membrane (12, 13, 14 ), and two gauges (Rx2, Rx3, Ry1, Ry4) of at least one Wheatstone bridge are placed on a non-deformable zone (13) of the membrane (12, 13, 14).
机译:惠斯登双桥电阻检测力测量装置包括至少八个电阻计(Rx1,Rx2,Rx3,Rx4,Ry1,Ry2,Ry3,Ry4)放置在可变形膜片(12、13、14)上并基本平坦并安装每个惠斯通电桥的电阻计(Rx1,Rx2,Rx3,Rx4,Ry1,Ry2,Ry3,Ry4)分别设置在膜片(12、13、14)的不相交部分上,两个至少一个惠斯通电桥的量规(Rx2,Rx3,Ry1,Ry4)放置在膜片(12、13、14)的不可变形区(13)上。

著录项

  • 公开/公告号FR2883372A1

    专利类型

  • 公开/公告日2006-09-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 COMMISSARIAT A LENERGIE ATOMIQUE;

    申请/专利号FR20050002649

  • 发明设计人 PATRICE REY;

    申请日2005-03-17

  • 分类号G01L1/18;G01L1/22;G01L5/22;G01L9/06;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-21 21:17:11

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号