要解决的问题:提供一种用于粗粒度分子模拟的点电荷确定方法,通过该方法,可以通过使用粗粒度模型快速且高精度地执行分子模拟。解决方案:该点电荷确定方法包括:静电势确定步骤2,通过量化化学计算来计算范德华表面上的静电势的空间分布;粗粒化步骤3,是通过使构成分子或分子集合体的两个以上的原子成为大致可见的粒子,来还原构成分子或分子集合体的单元。近似静电势计算步骤5,根据粗略可视化的粒子和点电荷的坐标计算静电势的空间分布;残差计算步骤6,其通过将量化化学方法的静电势与点电荷的近似静电势进行比较来计算残差,以及电荷最优化步骤7,用于确定残差的收敛并调整点电荷的值,从而残留物减少了。
版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007149075A
专利类型
公开/公告日2007-06-14
原文格式PDF
申请/专利权人 TORAY IND INC;
申请/专利号JP20060292293
申请日2006-10-27
分类号G06F17/50;G06F19;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:15:28