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TEST ITEM SELECTION METHOD AND SYSTEM, TEST ITEM SELECTION PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM THEREOF

机译:测试项目选择方法和系统,测试项目选择程序及其存储介质

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test item selection method capable of previously selecting optimum test items according to the ability of a test examinee, a system, a program, and a storage medium.;SOLUTION: The method includes a test item server 1 for storing a number of the test items, and a test item selection 2 for selecting a plurality of the test items from the test item server 1. The test item selection 2 includes an ability setting section 21 for setting an ability parameter (θj) of each examinee j, a correct answer probability calculation section 22 for determining a correct answer probability Pi(θ, j) for each examinee (j) based on the item parameter and the ability parameter (θj) relating to each test item (i) stored in the test item server 1, a test information amount integration section 23 for determining a test information amount Ii(θ, j) of each test item (i) for each examinee (j) based on the correct answer probability Pi(θj) and integrating the same by each of the test items (i), and a test item extraction section 24 for extracting the test items of higher order in the integration value of the test information amount.;COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种测试项目选择方法,该方法能够根据测试对象,系统,程序和存储介质的能力预先选择最佳测试项目。解决方案:该方法包括测试项目服务器1用于存储多个测试项目的测试项目以及用于从测试项目服务器1中选择多个测试项目的测试项目选择2。测试项目选择2包括用于设置能力参数(θj)的能力设置部分21。 ),由正确答案概率计算部分22,用于根据与每个测试有关的项目参数和能力参数(θ),为每个应试者(j)确定正确答案概率Pi(θ,j)。存储在检查项目服务器1中的检查项目(i),检查信息量累计部23,用于基于正确答案来确定每个应试者(j)的每个检查项目(i)的检查信息量Ii(θ,j)。概率Pi(θj)和积分通过每个测试项目(i)进行测试,测试项目提取部分24用于提取测试信息量的累计值中更高阶的测试项目。版权所有:(C)2007,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2007003883A

    专利类型

  • 公开/公告日2007-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KDDI CORP;

    申请/专利号JP20050184815

  • 发明设计人 SUGAYA FUMIAKI;

    申请日2005-06-24

  • 分类号G09B19/00;G06Q50/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 21:15:08

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