要解决的问题:测量和校正回波平面成像(EPI)序列中由梯度引起的交叉项磁场,涉及磁共振成像(MRI),尤其是高速EPI技术。解决方案:在磁共振成像(MRI)系统中确定梯度感应的交叉项磁场的方法包括以下步骤:将被检查的身体(物体)放置在静态磁场中;施加射频(RF)激励脉冲以在空间上选择物体的切片;沿着与切片相位平行的相位编码梯度磁场方向施加递增的相位编码梯度磁场;施加选择性RF重聚焦脉冲以在切片中选择一条线(线性部分);应用切换的读出磁场梯度,这会导致交叉项磁场;沿所选择的线产生相位编码梯度的数据阵列和对应的样本数据点;确定所选线的中心频率分布(CF),该中心频率分布表示梯度感应的交叉项磁场。
版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007117765A
专利类型
公开/公告日2007-05-17
原文格式PDF
申请/专利权人 TOSHIBA AMERICA MRI INC;
申请/专利号JP20070029269
发明设计人 ZHANG WEIGUO;
申请日2007-02-08
分类号A61B5/055;G01R33/48;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:15:02