要解决的问题:为了解决传统的衰落检测装置在衰落频率低时需要较长的衰落检测时间的问题。解决方案:本文公开的衰落检测方法包括:采样步骤103,用于获取检测器在预定时间内检测到的接收信号的信号电平,并将获取的电平存储到存储器中。变化量计算步骤104,用于计算此后存储在存储器中的多个连续级别的变化量;计数步骤105,其用于在其后的预定时间内对变化量的鉴别结果的计数低于预定阈值的次数进行计数,并且由于可以检测到衰落频率而无需测量底部之间的时间。这样,即使在衰落频率小的情况下,也能够缩短检测时间。
版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007221641A
专利类型
公开/公告日2007-08-30
原文格式PDF
申请/专利权人 MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD;
申请/专利号JP20060042155
发明设计人 KITAZAWA KEIICHI;
申请日2006-02-20
分类号H04B7/08;H04B7/26;H04B17/00;H04B1/10;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:13:35