解决方案:在包括多个天线元件的天线阵列中,使各个方向系数可编程以朝着包括较远区域的体积部分中的目标发射微波,并且进一步使各个方向系数可编程以接收天线。从目标反射的反射发射微波。处理器测量反射的发射微波的强度,并在该体积部分的微波图像中找到体素值。微波图像的分辨率足以分辨远处的物体。
版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007163474A
专利类型
公开/公告日2007-06-28
原文格式PDF
申请/专利权人 AGILENT TECHNOL INC;
申请/专利号JP20060318154
发明设计人 LEE GREGORY S;BAHARAV IZHAK;CORREDOURA PAUL L;YOUNG JAMES E;JOHN M NEIL;TABER ROBERT C;WEEMS WILLIAM;
申请日2006-11-27
分类号G01S13/89;G01V3/12;H04N5/225;H04N7/18;G01N22/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:13:24