要解决的问题:无论设备参数或周围解剖结构如何,都要可靠地确定横向弛豫时间T2 *。
解决方案:为了确定磁共振测量数据中的横向弛豫时间T2 *,检测测量体积中的T2 *松弛,并基于测量体积中磁化的基于时间的变化确定弛豫时间。在测量体积中确定局部磁场,并且根据局部磁场来校正松弛时间,使得产生校正的横向松弛时间。在检测分别具有不同的间隙ΔTE的多个预定回波时间TE中的磁化的相位变化的步骤中,以及根据磁化的相位变化来确定局部磁场的步骤中,确定局部磁场。在回波时间期间的间隙ΔTE被调节到测量点中的至少一个点,从而可以确定局部磁场而没有快速的相位变化。
版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007167651A
专利类型
公开/公告日2007-07-05
原文格式PDF
申请/专利权人 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト;
申请/专利号JP20060341007
发明设计人 THESEN STEFAN;
申请日2006-12-19
分类号A61B5/055;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:12:41