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METHOD AND APPARATUS FOR TESTING POWER SWITCHES USING A LOGIC GATE TREE

机译:使用逻辑门树测试电源开关的方法和装置

摘要

A method for testing power switches using a logic gate tree, the method comprises providing a logic gate tree electrically connected to a plurality of power switches, each output node of the plurality of power switches being electrically connected to a corresponding input node of a logic gate of the logic gate tree; applying a pattern of control signals to the plurality of power switches for controlling on-off states of the plurality of power switches; and determining whether an output voltage signal of an output node of the logic gate tree matches a predetermined value corresponding to the pattern of control signals.
机译:一种使用逻辑门树测试功率开关的方法,该方法包括提供电连接到多个功率开关的逻辑门树,多个功率开关的每个输出节点电连接到逻辑门的相应输入节点逻辑门树的;将控制信号的模式施加到多个电源开关,以控制多个电源开关的通断状态;确定逻辑门树的输出节点的输出电压信号是否与对应于控制信号的模式的预定值匹配。

著录项

  • 公开/公告号US2007252581A1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-11-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 YU-WEN TSAI;

    申请/专利号US20060380217

  • 发明设计人 YU-WEN TSAI;

    申请日2006-04-26

  • 分类号G01R31/28;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:05:33

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