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Method and x-ray system for determination of position of an x-ray source relative to an x-ray image detector

机译:用于确定x射线源相对于x射线图像检测器的位置的方法和x射线系统

摘要

In a method and x-ray system for determination of the relative position of an x-ray source relative to an x-ray image detector, a reference structure in a known position relative to the x-ray source is introduced into the beam path between the x-ray source and the x-ray image detector. The x-ray image detector acquires an x-ray image with the map of the reference structure. The position of the map of the reference structure in the x-ray image is determined by a computer and the position of the reference structure relative to the x-ray image detector is determined therefrom. The position of the x-ray source relative to the x-ray image detector is determined from this relative position of the reference structure to the x-ray image detector and from the position of the reference structure to the x-ray source.
机译:在用于确定X射线源相对于X射线图像检测器的相对位置的方法和X射线系统中,将相对于X射线源的已知位置的参考结构引入到之间的光路中。 X射线源和X射线图像检测器。 X射线图像检测器利用参考结构的图来获取X射线图像。通过计算机确定参考结构在X射线图像中的位置,并由此确定参考结构相对于X射线图像检测器的位置。 X射线源相对于X射线图像检测器的位置根据参考结构相对于X射线图像检测器的相对位置以及参考结构相对于X射线源的位置来确定。

著录项

  • 公开/公告号US2007030959A1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DIETER RITTER;

    申请/专利号US20060498652

  • 发明设计人 DIETER RITTER;

    申请日2006-08-02

  • 分类号G01D18/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:02:01

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