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Sub-diffraction limit resolution in microscopy

机译:显微镜中的亚衍射极限分辨率

摘要

A method and apparatus for visualizing sub-micron size particles employs a polarizing microscope wherein a focused beam of polarized light is projected onto a target, and a portion of the illuminating light is blocked from reaching the specimen, whereby to produce a shadow region, and projecting diffracted light from the target onto the shadow region.
机译:用于使亚微米尺寸的颗粒可视化的方法和设备采用偏振显微镜,其中将偏振光的聚焦光束投射到目标上,并且阻挡一部分照明光到达样品,从而产生阴影区域,并且将来自目标的衍射光投射到阴影区域。

著录项

  • 公开/公告号US7193774B2

    专利类型

  • 公开/公告日2007-03-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MING CHENG;WEINONG CHEN;

    申请/专利号US20040001104

  • 发明设计人 WEINONG CHEN;MING CHENG;

    申请日2004-12-01

  • 分类号G02B21/06;G02B21/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:01:22

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