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SDH test apparatus and SDH test method

机译:SDH测试装置和SDH测试方法

摘要

A SDH test apparatus substitutes a part of payload of received SDH data with a desired data and transmits. A FIFO memory (23) is installed between the Rx AU processor and the Tx AU processor, stores sequentially AU data extracted by the Rx AU processor and outputs to the Tx AU processor in the order of memorization. An AU pointer processor (24) outputs an AU pointer adjusting the number of data in the FIFO memory, allowing the Tx AU processor to read in payload of AU data, after a time lag (ΔT2 + ΔT4) of information leading head position of payload generated by the processing of AU data by the Rx AU processor and the Tx AU processor, by extracting the number of data in the FIFO memory. The Tx AU processor is composed to read out the payload of AU data from the FIFO memory, generate AU data and output to the Tx SOH processor so that the information leading position is at the position designated by the AU pointer value output from the AU pointer processor.
机译:SDH测试设备用期望的数据代替接收到的SDH数据的有效载荷的一部分并进行发送。 FIFO存储器(23)安装在Rx AU处理器和Tx AU处理器之间,顺序存储由Rx AU处理器提取的AU数据,并按照存储顺序输出到Tx AU处理器。 AU指针处理器(24)输出一个AU指针,以调整FIFO存储器中的数据数量,从而使Tx AU处理器在信息领先于有效载荷的头部位置的时间延迟(ΔT2+ΔT4)之后读取AU数据的有效载荷通过提取FIFO存储器中的数据数,由Rx AU处理器和Tx AU处理器对AU数据进行处理而生成。 Tx AU处理器用于从FIFO存储器中读取AU数据的有效载荷,生成AU数据并输出到Tx SOH处理器,以使信息引导位置位于从AU指针输出的AU指针值指定的位置处理器。

著录项

  • 公开/公告号EP1119126B1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-09-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ANRITSU CORP;

    申请/专利号EP20010100982

  • 发明设计人 MATSUMOTO HISASHI;

    申请日2001-01-17

  • 分类号H04J3/14;H04L1/24;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 20:50:06

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