首页> 外国专利> APPARATUS FOR OPTIMIZATION OF STATISTICAL DELAY MODEL AND METHOD FOR SIZING GATE

APPARATUS FOR OPTIMIZATION OF STATISTICAL DELAY MODEL AND METHOD FOR SIZING GATE

机译:统计延迟模型的优化装置和选通门的方法

摘要

An apparatus for optimizing a delay time and a gate sizing method using the same are provided to optimize a performance of a circuit by performing a gate sizing applying a probable delay time model. A gate sizing method using a delay time optimizing apparatus includes the steps of: calculating an average, and a standard deviation of a signal delay time inputted to a gate, and a correlation between delay time random variables(S701); outputting a delay time transfer value of the gate through an adding operation and a maximum value operation of the calculated delay time(S702); and calculating a gate sizing factor based on the average, standard deviation, and the gate delay time transfer value(S704). The correlation between the delay time random variables uses a covariance.
机译:提供了一种用于优化延迟时间的设备和使用该设备的栅极尺寸调整方法,以通过应用可能的延迟时间模型执行栅极尺寸调整来优化电路的性能。使用延迟时间优化装置的选通尺寸的方法包括以下步骤:计算输入到门的信号延迟时间的平均值和标准偏差,以及延迟时间随机变量之间的相关性(S701);通过所计算的延迟时间的加法运算和最大值运算,输出门的延迟时间传递值(S702);然后,根据平均值,标准偏差和栅极延迟时间传递值来计算栅极尺寸调整因子(S704)。延迟时间随机变量之间的相关性使用协方差。

著录项

  • 公开/公告号KR100686124B1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LG ELECTRONICS INC.;

    申请/专利号KR20060029530

  • 发明设计人 CHOI YOON SEOK;

    申请日2006-03-31

  • 分类号H03K5/13;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 20:32:52

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号