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CALIBRATING APPARATUS AND METHOD OF MARKING FOR LASER MARKING SYSTEM

机译:激光标记系统的标定装置和标记方法

摘要

A calibrating apparatus and a method a laser marking system is provided to control marking according to a size of a gap generated in a height of a chip inside a tray. A calibrating apparatus and a method a laser marking system includes a detecting part(1) and a marking part(2). The detecting part includes a vision camera(3) and a laser beam oscillator(4). The vision camera photographs X, Y position of chips(11) mounted on a tray(10) by detecting laser beam irradiated to a side of the chips mounted on the tray. The laser beam oscillator detects a position in a height direction by irradiating a laser beam to the side of the chips mounted on the tray. The marking part marks letters and/or figures on the chips.
机译:提供一种校准设备和一种激光标记系统的方法,以根据在托盘内部的芯片高度中产生的间隙的大小来控制标记。激光打标系统的校准设备和方法,包括检测部分(1)和打标部分(2)。检测部分包括视觉摄像机(3)和激光束振荡器(4)。视觉摄像机通过检测照射到安装在托盘(10)上的芯片的侧面的激光束来拍摄安装在托盘(10)上的芯片(11)的X,Y位置。激光振荡器通过向安装在托盘上的芯片的侧面照射激光束来检测高度方向上的位置。标记部分在芯片上标记字母和/或数字。

著录项

  • 公开/公告号KR100771496B1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-10-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 VIS CO. LTD.;

    申请/专利号KR20060040017

  • 发明设计人 LEE DAE HEE;

    申请日2006-05-03

  • 分类号B23K26;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 20:31:09

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