要解决的问题:便于生成测试规范以测试要测试的系统的运行情况,并通过减少测试泄漏来提高测试的可靠性。
解决方案:正常事件行生成部分112根据状态转变存储部分11中存储的状态转变信息生成正常偶数行。事件行搅动部分130根据存储在状态转变存储部分11中的搅动模式搅动正常事件行。搅拌模式存储部分122,并产生搅拌事件行。测试规格输出部分190输出包括由偶数行搅拌部分130搅拌的搅拌事件行的测试规格。
版权:(C)2008,JPO&INPIT
公开/公告号JP2008210275A
专利类型
公开/公告日2008-09-11
原文格式PDF
申请/专利权人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP;
申请/专利号JP20070047879
发明设计人 ISODA MAKOTO;
申请日2007-02-27
分类号G06F11/22;G06F11/28;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 20:25:57