要解决的问题:提供一种能够进行有效的剖析的剖析装置等。
解决方案:当执行由多种方法组成的执行程序时,统计模式测量部分231测量所执行的方法的处理时间。当测量的处理时间长于预定阈值时,细节测量对象设置部分24通过细节数据测量部分232将具有处理时间的方法设置为更细节的测量对象。细节数据测量部分执行更详细的测量。细节数据测量部分232设置为测量对象的方法,诸如获取堆栈轨迹。
版权:(C)2009,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2008257287A
专利类型
公开/公告日2008-10-23
原文格式PDF
申请/专利权人 NTT DATA CORP;
申请/专利号JP20070095389
申请日2007-03-30
分类号G06F11/34;G06F11/28;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 20:24:24