要解决的问题:提供一种具有高光学性能并且对外部干扰具有优异的扫描光学系统。解决方案:扫描光学系统30设有:偏转器31,偏转来自光源10的激光光束60;偏转器31。第二聚焦光学系统32,用于将由偏转器31偏转的激光光束60聚焦到被扫描面50上。第二聚焦光学系统32具有光学功能面33a,通过配置该光学功能面33a而形成光学功能部34。至少在光学功能面的一部分处具有锯齿形横截面的突出部分35。光学功能面33a构成为,在各突出部35的排列方向上的宽度W 版权:(C)2008,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007328082A
专利类型
公开/公告日2007-12-20
原文格式PDF
申请/专利权人 MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD;
申请/专利号JP20060158309
申请日2006-06-07
分类号G02B26/10;B41J2/44;H04N1/113;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 20:22:02