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METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING COMPOSITION PROFILE OF COPPER INDIUM GALLIUM CHALCOGENIDE LAYERS

机译:铜铟镓硫合金层组成分布特征的控制方法和装置

摘要

The present invention relates to method and apparatus for preparing thin films of semiconductor films for radiation detector and photovoltaic applications. In one aspect, the present invention is directed to a method of forming a Cu(In,Ga)(S,Se)2 layer with substantially uniform Ga distribution. In a particular aspect, the method includes depositing a precursor film on the base, the precursor film including Cu, In and Ga, sulfurizing the precursor film thus forming a sulfurized precursor layer with a substantially uniform Ga distribution, and selenizing the sulfurized precursor layer to reduce the sulfur concentration therein and obtain the Cu(In,Ga)(S,Se)2 layer with substantially uniform Ga distribution. In a further aspect, the method also includes the step of selenizing the precursor film.
机译:本发明涉及制备用于辐射检测器和光伏应用的半导体膜的薄膜的方法和设备。在一个方面,本发明针对一种形成具有基本均匀的Ga分布的Cu(In,Ga)(S,Se) 2 层的方法。在一个特定方面,该方法包括:在基底上沉积前驱体膜,该前驱体膜包括Cu,In和Ga;对该前驱体膜进行硫化,从而形成具有基本均匀的Ga分布的硫化前驱体层;以及将该硫化前驱体层硒化为降低其中的硫浓度并获得具有基本均匀的Ga分布的Cu(In,Ga)(S,Se) 2 层。在另一方面,该方法还包括使前体膜硒化的步骤。

著录项

  • 公开/公告号US2008096307A1

    专利类型

  • 公开/公告日2008-04-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BULENT M. BASOL;

    申请/专利号US20070740248

  • 发明设计人 BULENT M. BASOL;

    申请日2007-04-25

  • 分类号H01L21/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 20:14:17

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