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Selecting design points on parameter functions having first sum of constraint set and second sum of optimizing set to improve second sum within design constraints

机译:在参数函数上选择设计点,这些参数函数具有约束集的第一和和优化集的第二和以改善设计约束内的第二和

摘要

In one embodiment of the invention, parameter functions for a plurality of circuits in a subsystem are created. The subsystem has design constraints. Each one of the parameter functions corresponds to each one of the circuits. The parameter functions represent a relationship among design parameters of the subsystem. The design parameters include constraint and optimizing sets. Initial design points are selected on the parameter functions having a first sum of the constraint set and a second sum of the optimizing set such that the first sum satisfies the design constraints. New design points are selected on the parameter functions such that the second sum is improved within the design constraints.
机译:在本发明的一个实施例中,创建了子系统中多个电路的参数功能。子系统具有设计约束。每个参数函数对应于每个电路。参数函数表示子系统的设计参数之间的关系。设计参数包括约束和优化集。在具有约束集的第一和和优化集的第二和的参数函数上选择初始设计点,以使第一和满足设计约束。在参数函数上选择新的设计点,以便在设计约束内提高第二个总和。

著录项

  • 公开/公告号US7346479B2

    专利类型

  • 公开/公告日2008-03-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FRANKLIN M. BAEZ;

    申请/专利号US19980148392

  • 发明设计人 FRANKLIN M. BAEZ;

    申请日1998-09-04

  • 分类号G06F7/62;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 20:10:45

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