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机译:扫描天线阵列的二维量化方法
公开/公告号AT387015T
专利类型
公开/公告日2008-03-15
原文格式PDF
申请/专利权人 RAYTHEON COMPANY;
申请/专利号AT20050256962T
发明设计人 HEMMI CHRISTIAN O.;BALL BRIAN L.;MCCULLOUGH MARC H.;
申请日2005-11-10
分类号H01Q3/38;
国家 AT
入库时间 2022-08-21 20:05:05
机译: 扫描天线阵列的二维量化方法
机译: 二维量化的天线阵列波束方向扫描过程
机译: 二维阵列天线,其收发器模块分布在天线表面,并具有电子扫描功能