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Electron beam source, electron-optical apparatus comprising an electron beam source and method of operating an electron beam source

机译:电子束源,包括电子束源的电子光学设备以及操作电子束源的方法

摘要

it is a elektronenstrahlquelle (1) is proposed, which quelloberflu00e4che (5) by means of a photonenstrahls (29) is illuminated, whose intensity is variable. the photonenstrahl supports the emission of electrons from the quelloberflu00e4che by a photoelectric effect. in addition, there is still a extraktionsfeld provided for electrons from the quelloberflu00e4che trigger.may also have a heizeinrichtung (7), the emission of electrons from the quelloberflu00e4che thermally to support. a elektronenstrahlstrom (1) is measured and the intensity of the photonenquelle (27) in dependence on the measured elektronenstrahlstrom set.
机译:提出了一种电子致动器(1),其借助于光子(29)被照亮(5),其强度是可变的。光子能通过光电效应来支持量子点电子的发射。此外,仍然存在一个用于激发来自Quelloberfl触发器的电子的额外电荷。可能还有一个heizeinrichtung(7),它是从Quelloberfl触发器热释放的电子来支持的。测量电子辐射强度(1),并且取决于所测量的电子辐射强度组,光子的强度(27)。

著录项

  • 公开/公告号EP1403898A3

    专利类型

  • 公开/公告日2008-09-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CARL ZEISS NTS GMBH;

    申请/专利号EP20030021570

  • 发明设计人 STEIGERWALD MICHAEL DR.;

    申请日2003-09-24

  • 分类号H01J1/34;H01J37/073;H01J37/075;H01J3/02;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 19:59:15

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