机译:用于测试和测量对象温度的第一检测表和第一热力学系统,用于检测和测量虚拟基质温度的第二检测表和第二热力学系统,以及采用该方法的热处理装置
公开/公告号KR20080048922A
专利类型
公开/公告日2008-06-03
原文格式PDF
申请/专利权人 SOKUDO CO. LTD.;
申请/专利号KR20070110126
发明设计人 KAMEI KENJI;
申请日2007-10-31
分类号H01L21/66;H01L21/324;
国家 KR
入库时间 2022-08-21 19:53:36