机译:X射线成像系统的杂散辐射校正方法,涉及对X射线检测器的测量信号进行对数处理,从信号中减去校正值,以及在对物体进行射线照相时识别杂散辐射信号
公开/公告号DE102006040852A1
专利类型
公开/公告日2008-03-13
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS AG;
申请/专利号DE20061040852
发明设计人 STIERSTORFER KARL;
申请日2006-08-31
分类号G01N23/04;A61B6/03;G03B42/02;H04N5/325;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 19:49:43