机译:用于对电子技术组件的透射或反射进行矢量测量的测量设备,具有N个门,该N个门具有用于测量入射,反射或透射波到测量对象N个门的振幅的设备
公开/公告号DE102007020073A1
专利类型
公开/公告日2008-10-30
原文格式PDF
申请/专利权人 ADEMICS SENSOR TECHNOLOGY GMBH;
申请/专利号DE20071020073
发明设计人 WILL KARL;
申请日2007-04-26
分类号G01R27/28;G01R27/06;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 19:49:18