要解决的问题:建立一种用于以无损方式简单,简单地评估有机光学晶体的耐激光辐照性的方法,以便用激光束照射有机光学晶体以连续使用它,通过评价方法对具有耐激光照射性的有机光学晶体进行评价。
解决方案:一种评估方法,用于在用激光束照射有机光学晶体之前,通过衍射分析过程确定有机光学晶体的耐激光辐照性。此外,通过评价方法评价的具有耐激光辐照性的有机光学晶体可以容易且简单地以无损方式提供给大视野。
版权:(C)2009,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2009192275A
专利类型
公开/公告日2009-08-27
原文格式PDF
申请/专利权人 ARKRAY INC;
申请/专利号JP20080031123
发明设计人 UCHIDA HIROHISA;
申请日2008-02-12
分类号G01N17/00;G01N23/20;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 19:45:40