解决方案:具有通过将在规定的相同曝光条件下对作为被检体的样品的一部分进行连续成像而获得的多个局部图像连接起来的多个部分图像而获得期望的整体图像的摄像装置的显微镜具备曝光条件运算装置。运算部基于通过驱动载置有被检体的检体台的检体台,在规定期间内对被检体进行检体的同时对被检体进行扫描而得到的流动图像之间的关系,对规定的相同曝光条件进行算术运算。和规定的期限。
版权:(C)2009,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2009008793A
专利类型
公开/公告日2009-01-15
原文格式PDF
申请/专利权人 NIKON CORP;
申请/专利号JP20070168754
发明设计人 NODA TOMOYA;
申请日2007-06-27
分类号G02B21/36;H04N5/225;H04N5/235;G06T1/00;G03B7/08;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 19:43:40