首页> 外国专利> Fixed pattern noise correction method and fixed pattern noise correction apparatus for infrared imaging device

Fixed pattern noise correction method and fixed pattern noise correction apparatus for infrared imaging device

机译:红外成像装置的固定图案噪声校正方法和固定图案噪声校正装置

摘要

PPROBLEM TO BE SOLVED: To acquire an image signal with high accuracy by effectively utilizing an internal shutter provided on the inside of an infrared ray imaging apparatus. PSOLUTION: The infrared ray imaging apparatus is provided with a second frame memory 6 for storing internal shutter characteristic correction data Xb to correct a fixed pattern noise component caused by temperature unevenness of the internal shutter 5 independently of other memories so as to be capable of optimizing only the internal shutter characteristic correction data Xb at any time by update operations. Since the infrared ray imaging apparatus can properly eliminate the fixed pattern noise component caused by temperature unevenness of the internal shutter 5, the imaging apparatus can correct the fixed pattern noise with the accuracy nearly the same as that of a case when a large sized external shutter at the outside of the apparatus is in use. PCOPYRIGHT: (C)2004,JPO&NCIPI
机译:

要解决的问题:通过有效地利用设置在红外线成像设备内部的内部快门来获得高精度的图像信号。

解决方案:红外线成像设备设置有第二帧存储器6,用于存储内部快门特性校正数据Xb,以独立于其他存储器而校正由内部快门5的温度不均匀性引起的固定图案噪声分量,以便能够通过更新操作在任何时候仅优化内部快门特性校正数据Xb。由于红外线成像设备可以适当地消除由内部快门5的温度不均匀引起的固定图案噪声分量,因此成像设备可以以与大型外部快门的情况几乎相同的精度来校正固定图案噪声。在设备外部正在使用中。

版权:(C)2004,日本特许厅和日本国家唱片公司

著录项

  • 公开/公告号JP4207588B2

    专利类型

  • 公开/公告日2009-01-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本電気株式会社;

    申请/专利号JP20030026117

  • 发明设计人 坂元 健一;

    申请日2003-02-03

  • 分类号H04N5/33;G01J1/42;H04N5/225;H04N5/232;H04N5/335;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 19:38:35

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号