首页> 外国专利> Cantilever probes for nanoscale magnetic and atomic force microscopy

Cantilever probes for nanoscale magnetic and atomic force microscopy

机译:用于纳米级磁力和原子力显微镜的悬臂探针

摘要

The various embodiments discloses a cantilever probe comprising a first electrode and a second electrode engaged to a substrate and a branched cantilever wherein the cantilever comprises a nanostruture. Furthermore, the probe comprises a first arm of the cantilever engaged to the first electrode and a second arm of the cantilever engaged to the second electrode. Additionally, the cantilever probe comprises an electrical circuit coupled to the cantilever wherein the electrical circuit is capable of measuring a change in piezoresistance of the cantilever resulting from an atomic force and/or a magnetic force applied to the cantilever. Additionally, the invention discloses a method of performing atomic force microscopy, magnetic force microscopy, or magnetic resonance force microscopy. The nanostructures may comprise carbon or non-carbon materials. Additionally, the nanostructures may include nanotubes, nanowire, nanofibers and various other types of nanostructures.
机译:各种实施例公开了一种悬臂探针,其包括与基底接合的第一电极和第二电极以及分支的悬臂,其中悬臂包括纳米结构。此外,探针包括与第一电极接合的悬臂的第一臂和与第二电极接合的悬臂的第二臂。另外,悬臂探针包括耦合到悬臂的电路,其中该电路能够测量由于施加到悬臂的原子力和/或磁力引起的悬臂的压阻的变化。另外,本发明公开了一种执行原子力显微镜,磁力显微镜或磁共振力显微镜的方法。纳米结构可以包含碳或非碳材料。另外,纳米结构可以包括纳米管,纳米线,纳米纤维和各种其他类型的纳米结构。

著录项

  • 公开/公告号US7462270B2

    专利类型

  • 公开/公告日2008-12-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICHAEL J. NAUGHTON;

    申请/专利号US20070800598

  • 发明设计人 MICHAEL J. NAUGHTON;

    申请日2007-05-07

  • 分类号C25D5/18;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 19:28:50

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号