机译:用于光学记录介质的制造方法的主装置具有表现出破坏的次级轨道结构,该次级轨道结构改变了记录介质的光学可检测的表面特性,从而在介质上产生辅助信息
公开/公告号DE102008018222A1
专利类型
公开/公告日2009-10-15
原文格式PDF
申请/专利权人 MAIWORM & DR. BOSIEN GRUNDSTUECKS GBR (VERTRETUNGSBERECHTIGTER GESELLSCHAFTER: FRANK MAIWORM;
申请/专利号DE20081018222
申请日2008-04-10
分类号G11B7/26;G11B7/09;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 19:09:10