机译:为x射线图像记录系统提供质量度量以产生三维重建的方法,包括将口径物体放置在x射线图像记录系统中,在该系统中进行多次校准
公开/公告号DE102008018924A1
专利类型
公开/公告日2009-10-29
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;
申请/专利号DE20081018924
申请日2008-04-15
分类号G01N23/06;G01N23/04;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 19:09:10