要解决的问题:轻松识别缺少的测试项目。解决方案:测试项目相似度计算装置12计算测试规格的测试项目之间的相似度,并且分组装置13根据相似度对测试项目进行分组。测试规格评估装置14通过将适当的测试项目的数量与实际测试项目的数量进行比较来评估模块的测试规格。缺少项目组选择装置15基于被评估为缺少测试项目的数量的模块的规格,基于另一个模块规格来选择缺少测试项目组,并基于该测试项目选择缺少测试项目组。相似模块的规格,在模块规格中评估为适合测试项目的数量。参考示例呈现装置16将所选择的缺少测试项目组的测试项目呈现给用户。
版权:(C)2010,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2009266045A
专利类型
公开/公告日2009-11-12
原文格式PDF
申请/专利权人 FUJITSU LTD;
申请/专利号JP20080116480
申请日2008-04-26
分类号G06F11/28;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 19:05:39