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PROGRAM FOR SUPPORTING PREPARATION OF TEST SPECIFICATION, AND METHOD OF SUPPORTING PREPARATION OF TEST SPECIFICATION

机译:支持测试规范准备的程序和支持测试规范的准备方法

摘要

PPROBLEM TO BE SOLVED: To easily recognize a lacking test item. PSOLUTION: A test item similarity calculating means 12 calculates the similarity between the test items of a test specification, and a grouping means 13 groups the test items according to the similarity. A test specification evaluating means 14 evaluates the test specification of a module, by comparing the number of appropriate test items with the number of actual test items. A lacking item group selecting means 15 selects a lacking test item group, based on another module specification, in the specification of the module evaluated to be lacking in the number of test items, and selects a lacking test item group, based on the test item of a similar module, in the specification of the module evaluated to be appropriate in the number of test items. A reference example presenting means 16 presents the test items of the selected lacking test item groups, to a user. PCOPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
机译:

要解决的问题:轻松识别缺少的测试项目。解决方案:测试项目相似度计算装置12计算测试规格的测试项目之间的相似度,并且分组装置13根据相似度对测试项目进行分组。测试规格评估装置14通过将适当的测试项目的数量与实际测试项目的数量进行比较来评估模块的测试规格。缺少项目组选择装置15基于被评估为缺少测试项目的数量的模块的规格,基于另一个模块规格来选择缺少测试项目组,并基于该测试项目选择缺少测试项目组。相似模块的规格,在模块规格中评估为适合测试项目的数量。参考示例呈现装置16将所选择的缺少测试项目组的测试项目呈现给用户。

版权:(C)2010,日本特许厅&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2009266045A

    专利类型

  • 公开/公告日2009-11-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJITSU LTD;

    申请/专利号JP20080116480

  • 发明设计人 OTA YUIKO;YAGINUMA YOSHINORI;

    申请日2008-04-26

  • 分类号G06F11/28;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 19:05:39

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