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ELECTRON SPIN DETECTOR, SPIN POLARIZATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME, AND SPIN DECOMPOSED-LIGHT ELECTRON SPECTROSCOPE

机译:电子自旋检测器,使用相同的自旋极化扫描电子显微镜以及自旋分解光电子光谱仪

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electron spin detector capable of decomposing spin of an electron at high efficiency and unnecessitating acceleration of an electron beam at a 100 kV level and manufacturing at a compact size and inexpensively.;SOLUTION: The electron spin detector includes a plurality of magnetic resistance elements 504 and a deceleration lens 505 of the electron beam, and respective magnetic resistance elements 504 are arranged being inclined so as to make the electron beam spread by the deceleration lens 505 vertically incident.;COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种电子自旋检测器,该电子自旋检测器能够以高效率分解电子自旋,并且不需要以100 kV的水平加速电子束,并且能够以紧凑的尺寸和廉价的方式制造。多个磁阻元件504和电子束的减速透镜505,并且各个磁阻元件504倾斜地布置,以使由减速透镜505散布的电子束垂直入射。版权所有:(C)2010 ,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2010146968A

    专利类型

  • 公开/公告日2010-07-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HITACHI LTD;

    申请/专利号JP20080325893

  • 发明设计人 TAKAHASHI TERUO;

    申请日2008-12-22

  • 分类号H01J37/244;G21K1/00;G01T1/29;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 19:03:31

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