要解决的问题:提供一种用于检查膜的设备,该设备能够准确地检查分散在膜中的颗粒的各种分散特性。
解决方案:该设备配备有光源(照明装置200),该光源设置在其中分散有颗粒的透光膜的一个表面侧上。成像装置(照相机100),其布置在胶片的另一表面侧上并获取胶片的透射图像;用于使微小颗粒清晰的装置350,其使微小颗粒从成像装置获取的原始图像中清晰可见,并生成微小颗粒的清晰图像;用于使大颗粒显露的装置360,其使大颗粒从原始图像中显露并产生大颗粒的显露图像;检查图像生成装置370,根据微小颗粒和大颗粒的显像来生成检查图像。特性计算装置380,其计算检查图像中的粒子的特性。
版权:(C)2006,JPO&NCIPI
公开/公告号JP4491722B2
专利类型
公开/公告日2010-06-30
原文格式PDF
申请/专利权人 住友電気工業株式会社;
申请/专利号JP20040247464
申请日2004-08-26
分类号G01B11/02;G01N15/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 18:58:59