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APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING CRITICAL CURRENT PROPERTIES OF A COATED CONDUCTOR

机译:测量带涂层导体临界电流特性的装置和方法

摘要

The transverse critical-current uniformity in a superconducting tape was determined using a magnetic knife apparatus. A critical current Ic distribution and transverse critical current density Jc distribution in YBCO coated conductors was measured nondestructively with high resolution using a magnetic knife apparatus. The method utilizes the strong depression of Jc in applied magnetic fields. A narrow region of low, including zero, magnetic field in a surrounding higher field is moved transversely across a sample of coated conductor. This reveals the critical current density distribution. A Fourier series inversion process was used to determine the transverse Jc distribution in the sample.
机译:使用电磁刀设备确定超导带中的横向临界电流均匀性。使用电磁刀装置以高分辨率无损测量了YBCO涂层导体中的临界电流I c 分布和横向临界电流密度J c 分布。该方法利用了J c 在施加磁场中的强凹陷。在周围的较高磁场中的低磁场(包括零磁场)的狭窄区域在涂覆导体的样本上横向移动。这揭示了临界电流密度分布。使用傅里叶级数反演过程确定样品中的横向J c 分布。

著录项

  • 公开/公告号US2010066357A1

    专利类型

  • 公开/公告日2010-03-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FRED M. MUELLER;JENS HAENISCH;

    申请/专利号US20090560303

  • 发明设计人 JENS HAENISCH;FRED M. MUELLER;

    申请日2009-09-15

  • 分类号G01R33/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:55:16

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