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Systems and methods of alternative overlay calculation

机译:替代叠加计算的系统和方法

摘要

Methods and systems of alternative overlay calculation and of calculating overlay stability based on alternative overlay settings in a fabrication unit, and a computer readable medium are disclosed being capable of calculating alternative overlay error values based on alignment model parameters, alternative alignment model parameters, and overlay error values for a plurality of measurement positions.
机译:公开了替代覆盖计算和基于制造单元中的替代覆盖设置来计算覆盖稳定性的方法和系统,以及能够基于对准模型参数,替代对准模型参数和覆盖来计算替代覆盖误差值的计算机可读介质。多个测量位置的误差值。

著录项

  • 公开/公告号US7783444B2

    专利类型

  • 公开/公告日2010-08-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BORIS HABETS;MICHIEL KUPERS;

    申请/专利号US20080056134

  • 发明设计人 MICHIEL KUPERS;BORIS HABETS;

    申请日2008-03-26

  • 分类号G01N37/00;G01C17/38;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:50:08

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