首页> 外国专利> Basic cell design method for reducing the resistance of connection wiring between logic gates

Basic cell design method for reducing the resistance of connection wiring between logic gates

机译:降低逻辑门之间的连接线电阻的基本单元设计方法

摘要

The basic cell design method of the present invention is a method for carrying out: extended pattern formation for extending the patterns of input wiring and output wiring in the longitudinal direction, forming first extended patterns that extend with a prescribed dimensional width in a direction perpendicular to the longitudinal direction at the ends of the extended patterns, and forming second extended patterns that extend with the prescribed dimensional width from the input wiring and the output wiring at the center of the cell in the longitudinal direction; and dummy pattern formation for subsequently arranging dummy patterns in vacant areas within the cell.
机译:本发明的基本单元设计方法是一种用于执行以下步骤的方法:延伸图案形成,以在纵向上延伸输入配线和输出配线的图案,形成在与垂直方向上以规定的尺寸宽度延伸的第一延伸图案。在延伸图案的端部的纵向,并形成第二延伸图案,该第二延伸图案从单元的纵向中央的输入布线和输出布线以规定的尺寸宽度延伸。以及用于随后在单元内的空闲区域中布置伪图案的伪图案形成。

著录项

  • 公开/公告号US7647574B2

    专利类型

  • 公开/公告日2010-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TADASHI HARUKI;

    申请/专利号US20060589186

  • 发明设计人 TADASHI HARUKI;

    申请日2006-10-30

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:49:56

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号