首页> 外国专利> IMAGE SENSOR CAPABLE OF PREVENTING CROSSTALK DUE TO A MICRO LENS AND A MANUFACTURING METHOD THEREOF

IMAGE SENSOR CAPABLE OF PREVENTING CROSSTALK DUE TO A MICRO LENS AND A MANUFACTURING METHOD THEREOF

机译:能够防止由于微透镜引起的触角的图像传感器及其制造方法

摘要

PURPOSE: An image sensor and a manufacturing method thereof are provided to improve a bridge and merge phenomenon of a micro lens by reducing the thickness of a micro lens on the uppermost side of a photo diode.;CONSTITUTION: An etching stop pattern(51) comprises a first inner lens formed on the semiconductor substrate in order to correspond to a photo diode. A wiring layer is formed on the semiconductor substrate including the first inner lens. A protection layer pattern includes a second inner lens formed on the wiring layer to correspond to the first inner lens. A first planarization layer(110) is formed on the second inner lens. A color filter is formed on a first planarization layer to correspond to the photo diode. A second planarization layer is formed on the color filter. A micro lens(140) is formed on the second planarization layer.;COPYRIGHT KIPO 2010
机译:目的:提供一种图像传感器及其制造方法,以通过减小光电二极管最上侧的微透镜的厚度来改善微透镜的桥接和融合现象;组成:蚀刻停止图案(51)包括形成在半导体衬底上以对应于光电二极管的第一内部透镜。在包括第一内部透镜的半导体基板上形成布线层。保护层图案包括形成在布线层上以对应于第一内部透镜的第二内部透镜。在第二内部透镜上形成第一平坦化层(110)。滤色器形成在第一平坦化层上以对应于光电二极管。在滤色器上形成第二平坦化层。在第二平坦化层上形成微透镜(140)。; COPYRIGHT KIPO 2010

著录项

  • 公开/公告号KR20100078113A

    专利类型

  • 公开/公告日2010-07-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DONGBU HITEK CO. LTD.;

    申请/专利号KR20080136273

  • 发明设计人 PARK DONG BIN;

    申请日2008-12-30

  • 分类号H01L27/146;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 18:32:19

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号