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Test circuit to the testing of a carrying out a handshake - protocol, and method for testing a carrying out a handshake - protocol

机译:用于测试执行握手协议的测试电路以及用于测试执行握手协议的方法

摘要

The present invention relates to a test circuit for a handshake - protocol. The test circuit conventional detected errors, which in the case of the carrying out the handshake - protocol of two communication units occur. The test circuit is distinguished by a compact circuit design, on which a reduced susceptibility to a reliable and a greatly reduced space requirement entails. Furthermore, the invention relates to a method for testing the carrying out the handshake - protocol.
机译:用于握手协议的测试电路技术领域本发明涉及一种用于握手协议的测试电路。测试电路通常检测到错误,在执行握手的情况下会出现两个通信单元的协议。该测试电路的特征在于紧凑的电路设计,在该电路设计上,对可靠度的敏感性降低,并且对空间的要求大大降低。此外,本发明涉及一种用于测试执行握手协议的方法。

著录项

  • 公开/公告号DE102009000698A1

    专利类型

  • 公开/公告日2010-08-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号DE20091000698

  • 发明设计人

    申请日2009-02-06

  • 分类号H04L12/26;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 18:28:32

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